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ハードウェア・バグの考察 株式会社 数理設計研究所 Hal.T 2004/06/05 |
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最近はIP(Intellectual property=知的財産)としてハードウェアデザインを入手してFPGAで実証試験をしてからLSIを作ることが多くなっている。
その結果、デザイン段階での試験は別の者がやり、物理的にできあがったものは実現した者が別に試験することとなる。デザインをした者は前提となる予期した環境でそのIPが動くことを期待する。しかし必ずしもデザインした者が想定した環境でそのIPが使われるわけではない。デザイン段階での想定を超えた現実が待ち構えているとも言える。
大規模であっても単純な回路ブロック、たとえばFFTのような物では入出力が明快かつ単機能なのでそれほどの問題はおきない。しかしCPUのように動作する順序や手順が問題になるものでは単純な検査はできない。
こんな現状から、ハードウェアIPの試験手順として主にCPU、高機能LSI、周辺部の過去例を調査する。
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| -OC = Negative Output Contorol | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||