Xtal発振の回路パラメータ調査試験

ワンチップマイコン、リアルタイムクロックIC
Xtal発振の回路パラメータ調査試験

　　研究・設計　数理設計研究所　　矢澤　正人
記述：2003/3/25
修正：2003/4/21

ワンチップマイコン、リアルタイムクロックIC Xtal発振の回路パラメータ調査試験
研究・設計　数理設計研究所　　矢澤　正人記述：2003/3/25 修正：2003/4/21

　マイコン等の発振回路のCR定数は、データシートの値をそのまま使用するなど、適当な値でとりあえず動かすことができる。
　しかし、量産設計時や出荷・納品用機器の場合、必ず水晶メーカに回路調査試験を依頼して定数を決定する。
　

　回路調査は、部品購入商社などを経由するか、または直接水晶メーカに依頼する。
　メーカの提供する調査依頼書に動作温度範囲や必要な周波数精度を記入し、基板、IC（マイコン等）、回路図などを沿えて水晶メーカに依頼すると、およそ３～４週間で試験結果を得られる。

　基板上では、Xtal接続ピンとX'Tal他発振回路の全部品は物理的に配置可能な最小サイズに収めます。
　チップ部品を使うなら、発振回路のすべてが５mm角以内に収めなければNG。
　発振回路直下のベタグラウンドは容量成分となるので不要です。

　電流をたくさん流してやれば、発振開始が早く確実になりますが、回路を損傷します。しかし、電流が足らないと発振開始しないことがあります。
　また、電流の流しすぎは高調波ノイズの原因になり、不要なノイズを撒き散らす原因になります。
　水晶よりもセラロックのほうがQが低い分不要輻射が少なくなります。